[发明专利]一种用于快中子成像的探测器及其校正方法在审
| 申请号： | 202110474710.8 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN113189640A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 孙世峰;谷颖;李兴冀;张晓东 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学;哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01T3/06 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 102206 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于快中子成像的探测器及其校正方法，该探测器从上至下依次包括：第一光电转换器件、第一耦合层、有机闪烁体阵列、第二耦合层和第二光电转换器件；所述有机闪烁体阵列为柱体结构；所述第一耦合层和第二耦合层用于将所述第一光电转换器件、有机闪烁体阵列和第二光电转换器件耦合在一起，所述第一光电转换器件、第二光电转换器件和有机闪烁体阵列的横截面积相同。本发明提供的探测器对快中子具有深度识别能力，解决了快中子探测中轴向位置定位不准确的问题，从而在伴随粒子成像系统中，提高系统的时间分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快中子 成像 探测器 及其 校正 方法 | ||
【主权项】：
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