[发明专利]自动化实时监测功能的芯片可靠性测试系统及使用方法在审
| 申请号： | 202110455995.0 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113189473A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 孙鹏程;万利剑 | 申请（专利权）人： | 上海顶策科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 | 代理人： | 王瑞 |
| 地址： | 201100 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于电子技术领域，具体来说是一种自动化实时监测功能的芯片可靠性测试系统及使用方法，系统包括芯片监测装置，包括一加热腔，加热腔一侧面设有穿板孔，加热腔内设有部分放置板，放置板包括电路板和控制板，控制板穿过穿板孔与外界连通，电路板设置于加热腔内；监测组件和控制板电连接，用于监测待测芯片还包括控制器，控制器包括数据处理模块和数据分析模块，数据处理模块用于收集和存储来自电路板的数据，数据分析模块用于分析计算数据处理模块的数据，并将其与数据处理模块的数据进行比较。本发明通过增加试验过程中的实时监测，如有异常可以从监测结果中马上反应出来，此时即可暂停试验，介入分析，而不需要等待试验结束后再分析。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 实时 监测 功能 芯片 可靠性 测试 系统 使用方法 | ||
【主权项】：
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