[发明专利]基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置在审
| 申请号： | 202110449061.6 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113175999A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 周沛;江芝东;李念强;谢溢锋;傅剑斌;潘万胜 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 | 代理人： | 唐学青 |
| 地址： | 215104 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提出基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置，该装置包括：垂直腔面激光器、用于产生所需的光载波信号，第一功分器用于将被测微波源发出的信号分成两路，一路送至第二功分器，经第二功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器A滤波，另一路送至第三功分器，经第三功分器分成2路，其中的一路经移相、混频器后通过低通滤波器B滤波，第二功分器及第三功分器分成另一路分别进入双偏振强度调制器，经偏振分束后的x偏振态的光经光电探测器A、y偏振态的光进入经光电探测器B，然后分别经放大器放大后的信号作为射频信号输入对应的混频器中，混频器输出端连接对应的低通滤波器滤除高频信号，低通滤波器A、低通滤波器B输出的信号输入信号分析仪中，经计算可得到被测微波源的相位噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 偏振 双通道 微波 相位 噪声 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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