[发明专利]超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统有效
申请号: | 202110442272.7 | 申请日: | 2021-04-23 |
公开(公告)号: | CN113049908B | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 牛明慧;任洁;刘焕丽;张辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 | 代理人: | 钱文斌 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请提供的一种超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统,所述系统包括:两台可编程高精度直流电流源,为待测单元提供激励电流;可编程高精度电压表,测量待测单元电压;可编程开关矩阵,分别接入各可编程高精度直流电流源和可编程高精度电压表,并连接到一或多个待测单元;低通滤波模块,分别接于两台可编程高精度直流电流源、及可编程高精度电压表与可编程开关矩阵之间,以滤除高频噪声;上位机,用于与可编程模块进行通讯交互;接线端子板,与测试治具连接以装载待测单元。本申请能够提高超导SFQ标准工艺参数线下检测的精度和效率。 | ||
搜索关键词: | 超导 sfq 标准 工艺 参数 自动检测 系统 | ||
【主权项】:
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