[发明专利]基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法有效

专利信息
申请号: 202110389645.9 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113093121B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 夏永红;马心宇;张哲敏;陈楠;薛雨雨 申请(专利权)人: 北京无线电测量研究所
主分类号: G01S7/36 分类号: G01S7/36;G01S7/35
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 赖定珍
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于点迹密度反馈的自适应门限检测方法,涉及雷达信息处理技术领域。包括:对探测区域进行网格划分,设置初始的检测门限;对待检测数据进行门限检测和点迹提取处理;将每个点迹存入对应的网格中;若目标网格的点迹数量大于或等于预设的点迹容量门限,则调整目标网格的检测门限,重复上述步骤直到目标网格的点迹数量小于点迹容量门限。本发明提供的自适应门限检测方法,适用于非均匀的复杂背景下的点迹数量控制,可以控制网格内点迹数量保持在恒定范围,达到点迹级恒虚警率处理效果,不仅可以兼顾杂波区虚警抑制和非杂波区弱目标检测,同时还可以避免由于大量杂波点迹过滤导致的目标漏检。
搜索关键词: 基于 密度 反馈 自适应 门限 检测 方法
【主权项】:
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