[发明专利]可实现光路快速调节测试的双折射式纹影系统及方法有效
申请号: | 202110365971.6 | 申请日: | 2021-04-06 |
公开(公告)号: | CN113203705B | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 李党娟;刘荣明;吴慎将;王佳;苏俊宏;程军霞;张文斌;徐雪 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N21/01 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明为一种可实现光路快速调节测试的双折射式纹影系统及方法,其克服了现有技术中存在无法实现纹影装置快速且精确测试的问题,不仅解决了纹影系统的装置调节问题,并且可以直接使用点光源进行纹影实验测试。本发明包括依次设置的十字线光源,“十”字形标定光线与前置可变光阑适配模块,凸透镜一,凹球面镜一,凹球面镜二,凸透镜二,刀口装置和高速摄像相机;凹球面镜一与凹球面镜二之间设置测试对象。“十”字形标定光线与前置可变光阑适配模块包括前置可变光阑,十字线光源发出的“十”字形光线通过前置可变光阑得到“十”字形标定光线;“十”字形标定光线穿过前置可变光阑得到用于纹影实验的点光源。 | ||
搜索关键词: | 实现 快速 调节 测试 双折射 式纹影 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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