[发明专利]仪器的校准在审
| 申请号： | 202110348263.1 | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113092389A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | C.R.鲁斯卡 | 申请（专利权）人： | 唯亚威通讯技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/35;G01N21/359;G01N21/65 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 王红英;杨明钊 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及仪器的校准。公开了一种装置，可以使用第一光源的光确定用于光谱仪的校准值；在确定校准值之后，停用第一光源；基于校准值进行关于样品的测量，其中使用第二光源的光进行样品的测量；确定要更新校准值；并且使用来自第一光源的光更新校准值。 | ||
| 搜索关键词： | 仪器 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于唯亚威通讯技术有限公司，未经唯亚威通讯技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110348263.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体结构的制备方法及半导体结构
- 下一篇：半导体结构制作方法及半导体结构
