[发明专利]一种磁调制DCCT的零点偏差校准方法有效

专利信息
申请号: 202110340577.7 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113075605B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 王东兴;朱燕燕;李瑞 申请(专利权)人: 中国科学院上海高等研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 杨怡清
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种磁调制DCCT的零点偏差校准方法,其特征在于,包括:对磁调制DCCT的软磁磁芯进行正方向和负方向交替的周期性的励磁,通过调整补偿线圈的上游电路的参数使软磁磁芯在每个周期中其正方向和负方向上的磁通都进入饱和或临界饱和状态,从而实现零点校准;在补偿线圈的上游电路的参数不变的前提下,采用DCCT对被测的直流信号进行测量。本发明从磁调制的零点产生机理入手,通过在调制环节或在检波环节微调正、负半周的电路参数,从而实现低成本的DCCT的零点校准,避免了以上传统调零方式的中存在的对制作好的磁调制DCCT无法降低零点偏差或者会增加励磁功耗的不足。
搜索关键词: 一种 调制 dcct 零点 偏差 校准 方法
【主权项】:
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