[发明专利]一种光耦继电器性能测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110339453.7 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113075542A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉;季伟;徐刚;陈泓翰 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于测试设备领域，具体的说是一种光耦继电器性能测试装置，包括测试柜体，测试柜体内壁一侧固定连接有测试连接装置，测试连接装置通过导线电性连接有控制操作台，测试连接装置的连接口电性连接有光耦继电器，测试柜体内部连通有冷却机构；测试连接装置对光耦继电器的端子进行清理与保护，当光耦继电器运行发热时，通过冷却机构为光耦继电器进行降温处理；一种光耦继电器性能测试方法，通过该测试连接装置对光耦继电器进行测试，相较与传统的测试连接装置，测试更为准确，减少了光耦继电器端子表面的灰尘对测试产生影响，同时避免光耦继电器长时间工作发热影响到寿命测试的结果，使设备对光耦继电器测试的结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 继电器 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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