[发明专利]一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110257992.6 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN112833811A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 叶晓明;陈柏林;郭琪;傅翔;董平 申请(专利权)人: 叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 郑丰平
地址: 400045 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供了一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法,包括外接测试设备的多根测试光纤,设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上,或者先固定在测试光线载体上,测试光线载体再固定在检测对象上;所有测试光纤在检测区域内长度不同Li≤Li‑1(1+δ),δ作为光纤有效测试应变量。测试方法步骤包括:将外接测试设备的测试光纤固结在测试对象上,首先通过第一根测试光纤测试变形量;当测试光纤失效时,第二根测试光纤拉直、进入测试状态;当第二根测试光纤失效时,第三根测试光纤拉直、进入测试状态……;以此类推,直到完成大变形测试。本发明结构简单,稳定性好,检测精度高,结构成本及其实施成本低,实施过程简单,有极大的应用前景。
搜索关键词: 一种 继承 变形 光纤 测试 结构 方法
【主权项】:
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