[发明专利]一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法在审
申请号: | 202110257992.6 | 申请日: | 2021-03-09 |
公开(公告)号: | CN112833811A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 叶晓明;陈柏林;郭琪;傅翔;董平 | 申请(专利权)人: | 叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人: | 郑丰平 |
地址: | 400045 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: |
本发明提供了一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法,包括外接测试设备的多根测试光纤,设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上,或者先固定在测试光线载体上,测试光线载体再固定在检测对象上;所有测试光纤在检测区域内长度不同L |
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搜索关键词: | 一种 继承 变形 光纤 测试 结构 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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