[发明专利]半导体加工的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110180689.0 申请日: 2021-02-09
公开(公告)号: CN114683165A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 曾永标;王胜德;余幸芳 申请(专利权)人: 创技工业股份有限公司;王胜德
主分类号: B24B37/10 分类号: B24B37/10;B24B37/30;B24B37/34;B24B1/00;H01L21/67;H01L21/683
代理公司: 北京威禾知识产权代理有限公司 11838 代理人: 王月玲
地址: 中国台湾新竹县湖*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本揭露提供一种半导体加工的方法,包括:提供晶圆,晶圆具有第一表面以及相对于第一表面的第二表面,其中晶圆在第一表面上具有复数个半导体元件;粘贴胶膜于晶圆,其中胶膜具有第三表面面对第一表面;将框架固定于胶膜相对于第三表面的第四表面;将第二表面面对研磨磨具;以及从第二表面对晶圆进行研磨。
搜索关键词: 半导体 加工 方法 装置
【主权项】:
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