[发明专利]多参数同步测量方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202110053976.5 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112683338B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 冯雪;张金松;唐云龙;王锦阳;岳孟坤;屈哲 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及多参数同步测量方法、装置及系统，所述方法包括：获取被测物的表面在未加热时的初始图像、所述被测物的表面在加热过程中的考核图像及所述被测物的表面的参考点在加热过程中的参考温度；确定所述初始图像及所述考核图像的各个通道的光强；确定所述被测物的表面的温度场；确定所述被测物的表面的离面位移场；根据所述初始图像的蓝光通道的光强、所述考核图像的蓝光通道的光强确定所述被测物的表面的变形场。本公开实施例的多参数同步测量方法，消除了现有多通道相机通道串扰易造成误差提升、离面位移无法测量的问题，实现了对被测物在高温环境下的变形场、温度场、离面位移场的同步、准确测量，具有精度高、效率高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 同步 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110053976.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
