[发明专利]使用挑战-响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法在审

专利信息
申请号: 202110034190.9 申请日: 2021-01-12
公开(公告)号: CN113158200A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 金容秀;李柱渊;卢美贞;李容基;崔允赫 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F21/60 分类号: G06F21/60;G06F21/64
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 方成;张川绪
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及使用挑战‑响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法。所述集成电路包括内部挑战生成器、物理不可克隆功能(PUF)块和响应生成器。内部挑战生成器被配置为接收挑战,生成与挑战对应的多个内部挑战,并且使用筛选信息生成所述多个内部挑战之中的至少一个有效内部挑战。物理不可克隆功能(PUF)块被配置为生成分别根据所述多个有效内部挑战而改变的多个有效内部响应。响应生成器被配置为输出使用所述多个有效内部响应生成的响应。
搜索关键词: 使用 挑战 响应 协议 执行 认证 集成电路 方法
【主权项】:
暂无信息
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