[发明专利]一种融合完整截面与修正能谱模型的事件率预估方法在审
申请号: | 202110010127.1 | 申请日: | 2021-01-05 |
公开(公告)号: | CN112765869A | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 黄姣英;李鹏;高成;王自力 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F30/25 | 分类号: | G06F30/25;G06F30/27 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种融合完整截面与修正能谱模型的事件率预估方法,它有五大步骤:一、获取20‑180MeV能量范围的敏感截面数据;二、基于支持向量机预测敏感截面;三、验证预测得到的敏感截面数据;四、低能量条件下的截面补充与验证;五、融合修正能谱模型对事件率进行预估。该发明主要针对敏感截面数据不足的问题进行预估和验证,融合修正能谱模型对单粒子效应事件率进行预估,它可以定量分析机载电子设备的可靠性与安全性,为机载电子设备单粒子效应的防护提供依据。 | ||
搜索关键词: | 一种 融合 完整 截面 修正 模型 事件 预估 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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