[发明专利]电容检测电路、传感器、芯片以及电子设备有效

专利信息
申请号: 202080001590.3 申请日: 2020-03-03
公开(公告)号: CN111819451B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 蒋宏 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01D5/24
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 518045 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供了一种电容检测电路、传感器、芯片以及电子设备。电容检测电路包括相互连接的电容控制模块(1)、电荷转换模块(2)以及滤波模块(3);电容控制模块(1)控制待测电容(Cx)进行多次充放电,并根据接收到的电荷量,产生数字电压信号;其中待测电容(Cx)在每次充放电的过程中,被充电至预设电压后释放存储的全部电荷;电荷转换模块(2)在数字电压信号为高电平时,输出预设电荷量的负电荷至电容控制模块(1),预设电荷量大于或等于待测电容(Cx)被充电至预设电压时存储的电荷量;滤波模块(3)根据待测电容(Cx)多次充放电后产生的数字电压信号,得到表征待测电容(Cx)的电容值的数值。采用上述方案,无需通过模数转换器等模拟电路便可以将待测电容的电容值数字化,电路结构简单,降低了功耗和成本。
搜索关键词: 电容 检测 电路 传感器 芯片 以及 电子设备
【主权项】:
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  • 本公开实施例提供电容量测方法、系统、装置、电子设备及存储介质。其中,所述方法应用于机台,所述方法包括:获得校准文件,所述校准文件包括量测针卡浮空时对应的第一电容值;使用所述量测针卡同时量测若干半导体器件,获得所述若干半导体器件对应的第二电容值,其中所述若干半导体器件位于半导体芯片的同一测试模块;基于若干所述第一电容值和若干所述第二电容值,确定所述若干半导体器件的目标电容值。
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  • 韦星;吕柯桦;吕延威 - 湖南天正友选企业策划有限公司
  • 2023-06-09 - 2023-10-03 - G01R27/26
  • 本发明公开了一种电机驱动系统中母线电容的高精度无损状态监测方法,包括对母线电容器放电;根据电机驱动系统中现有信息计算母线电容的平均放电电流;结合母线电压信息,估算母线电容的电容值;对信号误差进行补偿和消除,确保电容值估算的准确性;对电容值估算方案进行实验验证。本发明基于电机驱动系统原有的控制和信号采集实现,无需软件侵入和硬件升级;无需复杂算法且采样需求低,可简单快速地完成电容值估算;不影响电机驱动系统的正常安全运行;实现高精度估算,即使在低采样条件和复杂的运行和环境条件下,电容值估算误差也可控制在1%以内;本发明可以有效解决传统电容值估算方案在成本,侵入性,复杂性,安全性和准确性方面存在的挑战。
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