[实用新型]用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪有效
申请号: | 202022168219.6 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN213301135U | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 周兴 | 申请(专利权)人: | 启东申通电子机械配件有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 蒯建伟 |
地址: | 226200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪,包括支架,支架设有上横梁与下横梁,上横梁与下横梁之间形成操作腔,上横梁上设有操作台,上横梁台面设有处理器,上横梁与操作台内设有上升降机,上升降机顶部设有X射线接收器,底部连接上升降杆,上升降杆底部设有滤光片,下横梁上设有下升降机,下升降机上连接下升降杆,下升降杆顶部设有滤光片,上下升降杆上的滤光片相对设置,支架上横梁内设有滑槽,滑槽内设有移动座,移动座下通过升缩杆连接上料盘。本实用新型结构设置合理,装置操作方便,使用便捷,上料方便,料材定位方便、准确,提高操作效率。 | ||
搜索关键词: | 用于 氧化铝 镀膜 生产 新型 荧光 测厚仪 | ||
【主权项】:
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