[实用新型]放射性表面污染测量支架有效
| 申请号： | 202021784361.7 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN213712552U | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 常青;贾力博;李明亮;江岳;许明发 | 申请（专利权）人： | 许明发 |
| 主分类号： | F16M13/02 | 分类号： | F16M13/02;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 王文雅 |
| 地址： | 530000 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种放射性表面污染测量支架，涉及辐射测量技术领域，解决了现有技术中存在的手持式表面污染监测仪器测量距离，误差大、且表面污染监测仪器易受到放射性沾污的技术问题。该放射性表面污染测量支架包括支架主体，其中，所述支架主体上开设有用于放置表面污染监测仪器的容纳通孔，所述容纳通孔处设置有支撑结构，所述表面污染监测仪器在所述容纳通孔内安装到位后所述支撑结构能支撑所述表面污染监测仪器且能露出所述表面污染监测仪器的探测窗口，所述支架主体上设置有高度调节结构且能通过所述高度调节结构调节所述支架主体距离待测表面之间的高度。 | ||
| 搜索关键词： | 放射性 表面 污染 测量 支架 | ||
【主权项】：
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