[实用新型]一种核级仪控设备测试用装置有效

专利信息
申请号: 202020475064.8 申请日: 2020-04-03
公开(公告)号: CN212111062U 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 王晋;王云辉;李岩;鲁洪建 申请(专利权)人: 王晋;王云辉;李岩;鲁洪建;中国核工业电机运行技术开发有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01F23/02
代理公司: 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 代理人: 田黎绒
地址: 100000 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种核级仪控设备测试用装置,涉及核级仪控设备检测技术领域,包括主体,所述主体的一侧开设有通孔,所述主体临近通孔处的后侧铰链连接有门体,且主体顶部远离通孔的一侧设置有放置槽,所述门体的表面固定连接有环形密封圈,且门体的底部两侧对称固定连接有凸块,所述放置槽的内部固定安装有透明储液箱。本实用新型中,该测试装置实现了对核级仪控设备抗腐蚀性能测试的功能,通过斜板、凹槽、推车和移动轮之间的配合使用,方便的测试核级仪控设备放入与取出,增加便捷性,且通过环形密封圈、环形槽和凸块之间的配合使用,既能增加门体与主体之间的密封性,又能解决了凹槽的密封性问题,增加测试的效果。
搜索关键词: 一种 核级仪控 设备 测试 装置
【主权项】:
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