[实用新型]一种划片机Z轴光栅检验装置有效

专利信息
申请号: 202020079905.3 申请日: 2020-01-15
公开(公告)号: CN211292031U 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 朴宇;张明明;周健宇;刘宏文;胡泊 申请(专利权)人: 沈阳和研科技有限公司
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00;G01B11/00
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张晨
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型属于检测设备技术领域,公开了一种划片机Z轴光栅检验装置,包括:主体框架、触摸屏、工业控制计算机、设备空开、内部元件和Z轴安装底座;主体框架分为上层框架与下层框架;触摸屏设置在上层框架上,上层框架的内部设置内部元件;设备空开设置在下层框架上,下层框架的内部设置工业控制计算机;内部元件包括:控制卡、步进电机驱动器和开关电源;控制卡与步进电机驱动器分别通过信号线连接待检验Z轴中的步进电机,开关电源通过电线连接待检验Z轴中的步进电机;控制卡、步进电机驱动器、开关电源、触摸屏与工业控制计算机分别通过电线连接设备空开;Z轴安装底座与下层框架固定。
搜索关键词: 一种 划片 光栅 检验 装置
【主权项】:
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