[发明专利]一种进行自动匹配的测试方法在审
| 申请号： | 202011635227.5 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112834906A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 李成霞;成家柏;吴鑫;杨靖;陈巍 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 江苏坤象律师事务所 32393 | 代理人： | 赵新民 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市西*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种进行自动匹配的测试方法，包括：步骤S1.获取所有待测晶圆信息，以及第一测试计划；步骤S2.选择预设数量的晶圆进行测试，获取第一测试数据；步骤S3.将所述第一测试数据，及产品的基准文件、产品的模板测试规格文件，作为自动匹配处理的输入读入，进行自动匹配处理生成第二测试计划；步骤S4.选择所有待测晶圆进行测试，获取第二测试数据。该方法实现了测试设备测试数据的补偿，使客户在使用不同厂家的测试设备时自动匹配，实现数据的处理与分析，方便客户的产品使用，有利于降低客户的生产、研发成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 进行 自动 匹配 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州广立微电子股份有限公司，未经杭州广立微电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011635227.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
