[发明专利]一种基于高频采样的脉冲调制信号参数测量系统及方法在审
| 申请号： | 202011625403.7 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112666403A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 樊光辉;韩立群 | 申请（专利权）人： | 上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所） |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200063 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于高频采样的脉冲调制信号参数测量方法及系统，包括：步骤M1：被测信号经过前端电路，将高频载波与本地载波进行混频变换为低频的中频信号；步骤M2：脉冲调制中频载波信号经过硬件检波电路后，输出周期脉冲信号；步骤M3：将周期脉冲信号输入硬件高速采集卡信号输入端，信号通过采集转换为数字信号，传输给上位机处理；步骤M4：上位机对数字脉冲信号进行基于跨阈值判断的参数测量算法测量。本发明能够优化脉冲信号特征参数测量过程中信号抖动噪声对测量结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 高频 采样 脉冲调制 信号 参数 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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