[发明专利]用于光学定位器精度检测的方法及装置有效
| 申请号： | 202011624057.0 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112729345B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 刘岩;李寅岩;董瑞朋 | 申请（专利权）人： | 北京天智航医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人： | 冷文燕;刘兴 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区永泰庄北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种用于光学定位器精度检测的方法及装置，涉及光学定位领域。用于光学定位器精度检测的方法包括：上位机控制光学定位器加载标定文件，得到多个标记点的理论坐标；上位机获取预先设置的标准精度检测工具的初始空间位置矩阵；上位机控制机械臂运动，使得标准精度检测工具按预设轨迹运动；在按预设轨迹运动过程中，光学定位器对标准精度检测工具多次采样，在每个采样位置，获得多个标记点的坐标；在每个采样位置，光学定位器通过多个标记点的坐标，与多个标记点的理论坐标，获得光学定位器的精度误差信息；上位机从光学定位器获得精度误差信息，通过精度误差信息确定光学定位器的精度指标。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 定位器 精度 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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