[发明专利]一种基于光学干涉原理的静电扫描测量系统有效
| 申请号： | 202011599395.3 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112763812B | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 张嘉伟;张泽磊;刘朝辉;付庚;王闯;王倩 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12;G01R29/24 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 杨洲 |
| 地址： | 710048*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种基于光学干涉原理的静电扫描测量系统，包括有可视化箱体；可视化箱体内设有试样放置平台，试样放置平台的一端连接有静电测试平台，试样放置平台的另一端连接有放电平台；将样品放置在铜盘电极上，关闭箱体操作口；通过X轴步进电机控制铜盘电极在X轴导轨上移动，试样移动至钼丝的正下方；利用Y1轴步进电机控制Y1轴导轨上的连接件a在Y1轴导轨上移动，对样品进行放电处理；通过X轴步进电机控制铜盘电极在X轴导轨上移动，将试样移动至静电测量棒的下方；通过Y2轴步进电机控制Y2轴导轨，使连接件b带动静电测量棒沿着Y2轴导轨移动，扫描整个试样的表面，将结果上传至上机位；具有测量效率高、测量时间短，结果准确的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 干涉 原理 静电 扫描 测量 系统 | ||
【主权项】：
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- 杨青;林飞宏;汤明炜;王曦灏 - 浙江大学
- 2023-05-16 - 2023-07-14 - G01R29/12
- 本发明公开了一种基于移频扫描的未知高功率高频微波电场测量方法及装置，属于光学传感和微波测量领域。本发明为解决现有高功率高频微波电场探测时存在的成本高、系统设备复杂、无法兼顾场强和频率测量的问题。本发明装置包括数据处理单元、控制组件、扫频组件、检测组件、信号采集单元。利用移频扫描，通过控制Stokes增益边带和本振边带的同步移频，仅监测kHz～MHz量级的中频信号即可获得未知高功率高频微波信号的频率和电场强度，从而实现了采用低速光电探测器和低速数据采集卡便可测量高频高功率微波信号的频率和场强。
- 一种新型场磨式电场仪-202222997032.6
- 盛夏;韩丁;尚莹;尹珊建;刘康宁;彭晓光;张国勇 - 中国人民解放军96901部队;北京蓝湖空间科技发展中心
- 2022-11-10 - 2023-07-14 - G01R29/12
- 本实用新型涉及大气静电场采集技术领域，尤其涉及一种新型场磨式电场仪。本实用新型包括：壳体、空腔、驱动电机、电场感应组件、信号调理模块、计算模块、电源模块、所述壳体，内设空腔，所述空腔的底部设有电场采集口；所述驱动电机，固定设置于所述空腔内，所述电场感应组件，设置于所述驱动电机的下方，所述信号调理模块、计算模块、电源模块分别与所述电场感应组件电性连接；本实用新型有助于解决由于采用弹性接地电刷与电机轴连接来接地导致长期磨损，导致接地不良，影响电场仪数据的准确性和因外部使用环境温度、湿度及干扰源的变化会影响相干检波电路的输出精度，导致电场测量误差的问题。
- 一种直流高压离子棒的消除静电能力检测电路-202320040902.2
- 陈永;刘西龙;李慎太;朱熠辰 - 无锡研平电子科技有限公司
- 2023-01-08 - 2023-07-14 - G01R29/12
- 本实用新型公开了一种直流高压离子棒的消除静电能力检测电路，涉及静电消除领域，该直流高压离子棒的消除静电能力检测电路包括：正极供电放大模块，用于对占空比为50％的方波放大后输出给正极输出模块；正极输出模块，用于输出电压为电极针施加正极电压；正极采样分压模块，用于采样正极输出模块电压，获取正极采样电压；正极放大输出模块，用于对正极采样电压放大后输出给单片机；负极供电放大模块，用于对占空比为50％的方波放大后输出给负极输出模块，与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型增加静电消除能力检测的功能，当电极针吸附粉尘或烧蚀变钝导致静电消除能力变弱或无消除能力时，消除器会有相应的指示灯提示。
- 一种同轴静电场等电位线的可视化描绘方法-202310134966.3
- 崔渊;徐浩;陈祝洋;黄成;王家圆;葛蓉;侯鸿涛;汪国栋 - 江苏理工学院
- 2023-02-20 - 2023-07-04 - G01R29/12
- 本发明公开了一种同轴静电场等电位线的可视化描绘方法，第一探针与第二探针分别置于电容触摸屏与静电场发生单元的圆心位置，机械臂移动，第二探针通过机械臂驱动在导电圆环内侧水平移动，在移动至导电圆环内的任一目标点后，机械臂驱动第一探针与第二探针同时下移，在第二探针与所述静电场发生单元接触并通电导通的同时，第一探针与电容触摸屏接触，并在电容触摸屏上绘制第二探针在该目标点通电导通后的等电位线，以及显示处于该等电位线上第二探针在静电场中的实际电压值与理论电压值。本发明能够大大提高静电场描绘的精确性，从而增强系统的可靠性。
- 复合式独立电位传感器的直流合成场强测量装置及其方法-201610600675.9
- 余占清;李敏;黄开天;刘磊;曾嵘;罗兵;付殷;张波;何金良;胡军;庄池杰 - 清华大学;南方电网科学研究院有限责任公司
- 2016-07-27 - 2023-07-04 - G01R29/12
- 本发明涉及复合式独立电位传感器的直流合成场强测量装置及其方法，属于电力系统电磁环境监测领域。该测量装置由两个电位互相独立且绝缘隔离的传感器和，和由差分信号处理模块、无线信号传输模块及无线信号收发模块及无线供能模块组成的信号处理电路构成；其中，传感器与传感器用绝缘材料隔开，通过绝缘材料进行机械上的连接，以实现完全电位隔离，所述信号处理电路集成在PCB版上，分别与两个传感器电连接。该方法包括对传感装置的λ参数进行标定，在实际测量待没电场时，两个传感器测量得到电场，作为该一位置点的两个原始数据；根据差分原理得到该该点的待测值。本发明可便捷、有效、可靠地进行离子流场条件下的直流合成场强测量。
- 一种基于双探针计算非均匀等离子体电场强度的方法-202310221258.3
- 曹进文;孟显;黄河激;陈瀚宇;张颖;张奇志;张晖 - 中国科学院力学研究所
- 2023-03-09 - 2023-06-30 - G01R29/12
- 本发明公开了一种基于双探针计算非均匀等离子体电场强度的方法，所述方法包括如下内容：双探针的两根金属电极包裹于非均匀等离子体射流内，改变串接在所述双探针上的扫描电压的大小，采集每个扫描电压下所述双探针内的电流，根据扫描电压和对应的电流拟合I‑V曲线，通过所述I‑V曲线得到超声速非均匀等离子体射流的电场强度。本发明拓展了传统双探针的使用范围，从非均匀等离子体的特性出发，可以直接获得等离子体电场强度，解决了现有技术中非均匀等离子体的测量计算方法中，由于非均匀等离子体自身的不稳定性，计算得到的电场强度的误差随测量时间增大的问题。
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