[发明专利]一种印制品线状缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202011589738.8 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112598659A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 胥思桐;韩卫丽;金刚;赵严;姚毅;杨艺 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种印制品线状缺陷检测方法，获取模板图像和缺陷图像；对模板图像和缺陷图像的RGB通道逐行卷积；对模板图像RGB通道卷积结果和缺陷图像RGB通道卷积结果进行二值化，确定目标图像；对每一个目标图像进行图像变换，确定第一方向二值模板图像对应第一方向模板特征图像、第二方向二值模板图像对应第二方向模板特征图像、第一方向二值缺陷图像对应第一方向缺陷特征图像、第二方向二值缺陷图像对应第二方向缺陷特征图像；当第一方向缺陷特征图像和第一方向模板特征图像对比出现新的特征峰值且第二方向缺陷特征图像和第二方向模板特征图像对比出现新的特征峰值，则判定缺陷图像中的缺陷为线状缺陷；能够提高缺陷检测精度，消除缺陷类型的误报。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 印制 线状 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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