[发明专利]芯片检测分选机及其检测方法在审
| 申请号： | 202011581648.4 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112657855A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 汪杰;许洪祎 | 申请（专利权）人： | 无锡市宝御达机械设备制造有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/344;B07C5/38;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人： | 戴丽伟 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片检测分选机及其检测方法，一种芯片检测分选机包括基板；基板上设置取料机构、入料机构、测试机构、预定位机构、出料机构和NG机构；料盘从入料机构进入，通过取料机构取出放置于预定位机构中，再由测试机构取入检测，再由测试机构取出至预定位机构中，再由取料机构取出，分别放入出料机构和NG机构中，完成循环。本发明合理提高分选机的处理量。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 分选 及其 方法 | ||
【主权项】：
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