[发明专利]一种低介电损耗、宽烧结工艺窗口的低温共烧陶瓷材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011579910.1 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN112679199A 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 温俊磊;周世平;周纪平;马丹丹;李武;裴广斌 申请(专利权)人: 洛阳中超新材料股份有限公司
主分类号: C04B35/10 分类号: C04B35/10;C04B35/626;C03C6/04;C03C1/00;C03C12/00
代理公司: 北京美智年华知识产权代理事务所(普通合伙) 11846 代理人: 汪永生
地址: 471899 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种低介电损耗、宽烧结工艺窗口的低温共烧陶瓷材料及其制备方法。该低温共烧陶瓷材料是由钙硼硅铅玻璃和氧化铝陶瓷组成,按质量分数计,钙硼硅铅玻璃为50wt%~70wt%,氧化铝陶瓷为30wt%~50wt%。制备方法包括钙硼硅铅玻璃粉体的制备,复合粉体的制备,以及复合粉体的成型和低温烧结。本发明的低温共烧陶瓷材料具有非常低的介电损耗,在20MHz下测得材料的介电损耗在3×10‑5~8×10‑4之间;同时具有非常宽的烧结工艺窗口,在700℃到900℃之间均可以烧结,且烧结致密化程度高,与银浆共烧匹配性好。
搜索关键词: 一种 低介电 损耗 烧结 工艺 窗口 低温 陶瓷材料 及其 制备 方法
【主权项】:
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