[发明专利]一种基于BSC单元特性的系统级边界扫描链的集成设计方法在审
| 申请号： | 202011527393.3 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112763898A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 钱黎明;张锐;桂江华;张荣;周昱 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于BSC单元特性的系统级边界扫描链的集成设计方法，属于集成电路可测性设计领域。在IP核的外部I/O端口下插入BSC单元，形成IP核局部边界扫描链；在SoC核心逻辑生成边界扫描链和JTAG控制器；然后在系统级，根据BSC单元的特性将IP核局部边界扫描链连接到SoC核心逻辑边界扫描链上，形成一个完整的系统级边界扫描链。在大规模集成电路可测性设计时，运用本发明的方法，能有效避免冗余测试逻辑的产生，同时减少对I/O端口的消耗，在系统级实现了简单高效的边界扫描测试，大大地降低了设计的复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 bsc 单元 特性 系统 边界 扫描 集成 设计 方法 | ||
【主权项】：
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