[发明专利]标准温度法和相对谱线法同步诊断等离子体温度场的方法有效

专利信息
申请号: 202011508059.3 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112729555B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 靳兴月;林启富;胡立群;曾梅花;赵鹏 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 张乾桢
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种标准温度法和相对谱线法同步诊断等离子体温度场的方法,将待测电弧等离子体温度场分为电弧弧柱区域温度和电弧边缘区域温度两部分,对于电弧弧柱区域温度,找到电弧等离子体放电图像的灰度值G与等离子体发射系数εv之间的关系,利用标准温度法来进行计算;对于电弧边缘区域温度,找到灰度值G与辐射强度I之间的关系,利用相对谱线法,进而求得电弧边缘区域温度分布。本发明通过标准温度法和相对谱线法2套温度诊断方法同步诊断电弧温度,互相验证电弧弧柱区域和电弧边缘区域温度的准确性,增加整个电弧温度场诊断的准确性,诊断温度范围更大。
搜索关键词: 标准 温度 相对 谱线法 同步 诊断 等离子体 温度场 方法
【主权项】:
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