[发明专利]一种高频同轴信号探针测试单元在审
| 申请号： | 202011507168.3 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112230027A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 钱晓晨;蔡泓羿 | 申请（专利权）人： | 苏州和林微纳科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 | 代理人： | 王利斌 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高频同轴信号探针测试单元，包括上基座、下基座和信号探针，所述上基座上开设有上下贯通的上腔体，所述下基座上开设有与上腔体对应的上下贯通的下腔体，所述上基座和下基座组成测试基座，所述上腔体和下腔体组成信号腔体，其内穿设有信号探针，所述上腔体内安装有上轴套，所述下腔体内安装有下轴套。本发明的有益效果是：信号探针结构导向性好，其与信号腔体同轴设计，阻值波动小，可通过信号探针与信号腔体的间隙大小来进行阻抗计算来满足客户芯片的具体阻抗匹配要求，避免了现有探针插损与回损过大的情况，提高了芯片频率测试的应用范围，更好的满足5G及AI时代对高速图像处理等高速芯片测试的更高要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 同轴 信号 探针 测试 单元 | ||
【主权项】：
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