[发明专利]一种基于FPGA的高精度DAC测试系统在审
| 申请号： | 202011485524.6 | 申请日： | 2020-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN112769434A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 康明超;孔祥艺;丁宁;程绪林 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于FPGA的高精度DAC测试系统，属于半导体芯片测试领域。基于FPGA的高精度DAC测试系统，包括FPGA开发板、电源、DAC测试板、频谱分析仪、示波器和数字万用表；所述电源与所述FPGA开发板和所述DAC测试板连接，向其提供稳定电压；所述FPGA开发板向所述DAC测试板发送并行的数字信号和时钟信号，所述DAC测试板将数字信号转换成模拟量输出；所述DAC测试板分别与所述频谱分析仪、所述示波器和所述数字万用表连接，用于分析输出的模拟量。本发明采用FPGA的设计技术，能够完成数模转换器的静态参数测试和动态参数测试，提高数模转换器测试效率的同时、可根据实际测试需求扩展测试功能，并具有较低的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 高精度 dac 测试 系统 | ||
【主权项】：
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