[发明专利]接近检测装置在审
申请号: | 202011482712.3 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN113010036A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 依知川祯一 | 申请(专利权)人: | 阿尔派株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/042 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 课题在于,提供能够消除不能检测区域的接近检测装置。解决手段在于,本发明的接近检测装置使用发光元件(LED)、以及接受来自该发光元件(LED)的照射光被物体反射而成的反射光的受光元件(PD),检测物体的接近。以使从发光元件(LED)照射的照射光的一部分朝向来自发光元件(LED)的照射光未充分到达的区域反射的方式,在发光元件的附近配置反射镜(100),而且以能够以大范围接受来自发光元件(LED)的反射光的方式,在受光元件的附近设置反射镜(110)。 | ||
搜索关键词: | 接近 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿尔派株式会社,未经阿尔派株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011482712.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有混晶区的半导体装置
- 下一篇:压电致动器