[发明专利]一种超微量分光光度计的测试孔校准装置及校准方法在审
| 申请号： | 202011472848.6 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112610581A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 刘鸿飞;彭万佳;陈玉华 | 申请（专利权）人： | 奥谱天成（厦门）光电有限公司 |
| 主分类号： | F16B19/02 | 分类号： | F16B19/02;F16M5/00;G01N21/31 |
| 代理公司： | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 | 代理人： | 郭福利 |
| 地址： | 361000 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种超微量分光光度计的测试孔校准装置及校准方法，其中待校准的超微量分光光度计包括上基座和下基座，上基座安装上活动座，下基座安装下活动座，上活动座开设上测试孔，下活动座开设下测试孔，上测试孔和下测试孔直径相等且相对设置。所述校准装置包括用于插入上测试孔以及下测试孔的定位销，定位销的直径与上测试孔的直径相等。本发明针对现有的超微量分光光度计存在的上、下基座对不准的问题，采用机械式定位销校准上、下基座，以定位销顺滑不卡为有效校准，使得上测试孔和下测试孔处于同心，方便安装光纤的时候对准，同轴偏差值在0.06mm范围内，提高分光光度计的稳定性和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微量 分光 光度计 测试 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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