[发明专利]一种适用于空封电路加速贮存寿命试验的检测与评估方法在审
| 申请号： | 202011342397.4 | 申请日： | 2020-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN112595953A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 陈达;王哲;张仕念;李整利;李凌;张坤;王振宇 | 申请（专利权）人： | 西安太乙电子有限公司;北京控制与电子技术研究所;中国人民解放军火箭军研究院导弹工程研究所;中国人民解放军火箭军装备部装备项目管理中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 安彦彦 |
| 地址： | 710075*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种适用于空封电路加速贮存寿命试验的检测与评估方法，包括以下步骤：步骤1，对待测样品的每个测试节点依次施加振动应力进行振动试验；步骤2，之后对振动试验后的待测样品进行电参数测试，得到电参数值；步骤3，根据得到的电参数值对待测样品的贮存寿命进行评估；本发明对键合丝键合情况的检测不用对样品进行开封，为非破坏性试验，检测合格样品能继续进行试验，避免了试验样品的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 电路 加速 贮存 寿命 试验 检测 评估 方法 | ||
【主权项】：
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