[发明专利]一种分等级筛选芯片的方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202011341934.3 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112588617A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 文波 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/36;G06K9/62
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 张仲波
地址: 300000 天津市滨海新区天津华苑*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明的实施例公开了一种分等级筛选芯片的方法、装置及电子设备,涉及芯片分等级技术领域,避免了在性能和品质差的晶圆上,选择各项指标合格的芯片给产品使用,导致选出的芯片不满足高品质产品需求的问题。所述分等级筛选芯片的方法,包括:对若干个晶圆进行晶圆接收测试WAT,获得第一测试结果数据;对各晶圆中的芯片进行晶圆测试WS,获得第二测试结果数据;根据第一测试结果数据和第二测试结果数据,对晶圆以及晶圆中的芯片进行分类。本发明能够依据WAT和WS测试结果数据,来拆分不同品质等级的晶圆,归类不同品质的芯片,以供后续封测时候给不同等级产品使用。
搜索关键词: 一种 分等级 筛选 芯片 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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