[发明专利]包括支撑件的半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202011336334.8 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN113140571A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 梁宇成;金志荣;金智源 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11529 分类号: H01L27/11529;H01L27/11556;H01L27/11573;H01L27/11582
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种半导体装置及其制造方法。所述半导体装置包括:衬底,其包括单元区和连接区。连接区包括多个焊盘区和贯穿电极区。水平导电层位于衬底上。支撑件位于水平导电层上。支撑件包括单元区中的第一部分、多个焊盘区中的第二部分和贯穿电极区中的第三部分。连接导电层位于第一部分与水平导电层之间。连接模制层位于第三部分与水平导电层之间。设置穿过第三部分、连接模制层和水平导电层的第一埋置绝缘层。堆叠结构位于衬底上。设置穿过第一埋置绝缘层的贯穿电极。
搜索关键词: 包括 支撑 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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