[发明专利]一种芯片测试模式的进入方法及系统在审

专利信息
申请号: 202011335138.9 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN112595967A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 王锐;张良臣;莫军;王亚波;李建军 申请(专利权)人: 广芯微电子(广州)股份有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 陈旭红;吕金金
地址: 510000 广东省广州市黄埔区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种芯片测试模式的进入方法及系统,涉及集成电路技术领域。其中方法包括:接收SPI协议命令;判断所述SPI协议命令是否为Enable命令;若是,则确定芯片要进入测试模式;确定所述芯片要进入测试模式后,将CPU通路旁路,将接收命令逻辑电路作为命令通路;将来自所述接收命令逻辑电路的命令转化为总线的读写操作,进入所述芯片的测试模式。本发明不需要在系统上添加多余的不可进行功能复用的测试模式选择IO,并且在芯片封装后,仍旧可以通过SPI协议命令使芯片进入测试模式。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 模式 进入 方法 系统
【主权项】:
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