[发明专利]基于低频噪声的元器件状态检测装置和方法有效
| 申请号： | 202011181611.2 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112305329B | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 陈云霞;郑舒文;卢震旦;余昌博;刁泉贺;仵若玙;张丛然 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人： | 韩燕 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于低频噪声的元器件状态检测装置和方法，其包括依次连接的低频噪声采集电路、嵌入式系统和上位机；其中低频噪声采集电路由高低频组合滤波电路和并联低噪声运算放大器组成；嵌入式系统包括模拟信号采样电路、模拟‑数字转换模块、内部存储器、初步分析波形绘制模块和示波器；上位机包括上位机存储器、故障筛选模块、预测模块、频域分析模块、计算模块和可视化界面模块。低频噪声采集电路采集低频噪声并发送至嵌入式系统；低频噪声通过嵌入式系统转换为低频噪声数字信号；上位机接收低频噪声数字信号进行保存并处理，得到元器件状态。本申请实现了对低频噪声信号的检测，并利用低频噪声信号对元器件故障进行筛选与预测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 低频 噪声 元器件 状态 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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