[发明专利]基于Van Atta阵的介电常数测量系统和方法有效
| 申请号： | 202011152603.5 | 申请日： | 2020-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN111983330B | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 丁亮;郑月军;陈强;肖科;付云起;柴舜连 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 邱轶 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种基于Van Atta阵的介电常数测量系统和方法。所述系统包括测量天线阵、Van Atta阵和介电常数计算设备。测量天线阵设置在Van Atta阵的远场区，用于发射测量信号和接收测量信号经待测物作用和Van Atta阵反射后的反射信号。Van Atta阵与测量天线阵相对设置，口径大于待测物直径，工作频率和极化方式根据测量信号设置，回溯方向图覆盖测量天线阵。介电常数计算设备根据接收到的反射信号计算待测物的介电常数。上述系统利用Van Atta阵的电磁波回溯功能，自动将经待测物作用的测量信号反射回测量天线阵，可确保测量天线阵处接收到的反射信号的能量和信噪比，提高测量精度及其稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 van atta 介电常数 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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