[发明专利]一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法有效
申请号: | 202011132923.4 | 申请日: | 2020-10-21 |
公开(公告)号: | CN112380672B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 梁虎成;杜伯学;李进;王泽华;张程;冉昭玉 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/02 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 吴学颖 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法:分别确定支柱绝缘子和盘式绝缘子的几何尺寸;对支柱绝缘子和盘式绝缘子分别进行有限元网格剖分:对支柱绝缘子进行一维剖分单元格,对盘式绝缘子进行二维剖分单元格;确定仿真起始条件;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子时间t时刻的颗粒运动速度;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的流入和流出;分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的氧化铝浓度;如果时间达到70分钟,则停止计算,并依据单元格内氧化铝的浓度折算出绝缘子密度;否则,将时间增加为t+dt,重复上述步骤。本发明是获取绝缘子密度分布的经济有效手段。 | ||
搜索关键词: | 一种 确定 支柱 绝缘子 密度 分布 仿真 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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