[发明专利]四分之一波片快轴方位角和相位延迟量分布的测量装置和方法有效
| 申请号： | 202011089657.1 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN112326201B | 公开（公告）日： | 2023-02-14 |
| 发明（设计）人： | 唐凡春;步扬;吴芳;刘志帆;王向朝 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种四分之一波片快轴方位角和相位延迟量分布的测量装置，包含准直光源，沿所述的准直光源发出的光束前进方向上，依次是扩束镜、光束整形器、起偏器、涡旋半波片、检偏器和图像传感器，该图像传感器的输出端与计算机相连，待测波片放置于涡旋半波片和检偏器中间。本发明通过改变起偏器的透光轴方向并利用涡旋半波片获得不同偏振态的矢量偏振光，使不同的矢量偏振光垂直入射待测波片，用图像传感器采集通过检偏器后的光强分布图。用计算机对采集的光强分布图进行数据处理和计算可以得到待测四分之一波片的快轴方位角和整面的相位延迟量分布。该装置测量过程中只需转动起偏器一次，结构简单，测量快速方便，测量精确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 四分之一 波片快轴 方位角 相位 延迟 分布 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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