[发明专利]一种MCU读写保护的测试方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202011048697.1 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112182586A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 徐琴;钱斌 | 申请（专利权）人： | 中电海康无锡科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/57 | 分类号： | G06F21/57 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及微控制器技术领域，具体公开了一种MCU读写保护的测试方法，其中，包括：根据上位机的测试指令选择测试模式；根据选择的测试模式对目标MCU进行读保护和/或写保护测试；根据目标MCU的读保护和/或写保护的测试结果判断所述目标MCU是否存在读和/或写保护机制；将所述目标MCU是否存在读写保护机制的判定结果反馈至所述上位机进行显示。本发明还公开了一种MCU读写保护的测试装置及一种MCU读写保护的测试系统。本发明提供的MCU读写保护的测试方法可应用于MCU设计的验证、测试阶段，针对MCU设计的数据读写操作保护机制进行全面有效的验证、测试，从而确保设计的数据读写操作保护机制能真正起到正确的保护作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 读写 保护 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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