[发明专利]一种恒温晶体振荡器的最优控温点测试方法及系统在审
| 申请号： | 202011007648.3 | 申请日： | 2020-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN112129998A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;郭跃伟;段磊;崔健 | 申请（专利权）人： | 河北博威集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01K7/22;H03L1/02 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 付晓娣 |
| 地址： | 050051 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明适用于晶体振荡器技术领域，提供了一种恒温晶体振荡器的最优控温点测试方法及系统，所述方法包括：在恒温晶体振荡器的环境温度范围内选取M个不同的温度值作为环境温度采样点，在恒温晶体振荡器的控温点的温度范围内选取N个不同的温度值作为控温点采样点；采集恒温晶体振荡器在各个环境温度下的各个控温点时的输出频率，并对环境温度采样点、控温点采样点和输出频率进行三次幂曲线拟合，得到恒温晶体振荡器的最优控温点。本发明只需进行一次高低温试验便可精确获得高稳恒温晶体振荡器的最优控温点，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 恒温 晶体振荡器 最优 控温点 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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