[发明专利]一种可对芯片进行测试和平整度检测的芯片打磨机构在审

专利信息
申请号: 202011006900.9 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112045531A 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 彭良九 申请(专利权)人: 彭良九
主分类号: B24B19/00 分类号: B24B19/00;B24B41/00;B24B49/00;B24B55/06;B24B41/06;B24B41/02;B24B49/02;G01R31/28;G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 523808 广东省东莞市松山湖高新技*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种可对芯片进行测试和平整度检测的芯片打磨机构,具体为底座、纵向导轨、传送带、集成芯片和夹持座,所述底座顶部的两侧均安装有驱动轨,且驱动轨内均固定有活动座,所述活动座的顶端均安装有支撑柱,且支撑柱一侧的中间位置处安装有控制面板,所述支撑柱之间的顶端安装有连接板,且连接板内部的一侧开设有活动槽,该可对芯片进行测试和平整度检测的芯片打磨机构,通过设置有两个传送带和夹持座,夹持座可在液压伸缩杆作用下向电路板靠拢,对电路板进行夹持,方便对电路板进行打磨操作,即传送带既能够作为传送机构对电路板进行上料又可配合夹持座使用作为打磨的工作台,便于芯片的批量化检测与打磨,生产的效率更高。
搜索关键词: 一种 芯片 进行 测试 平整 检测 打磨 机构
【主权项】:
暂无信息
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