[发明专利]一种碱熔-原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法在审
| 申请号： | 202010981036.8 | 申请日： | 2020-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN112147116A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 王艳超;刘金龙;张成信 | 申请（专利权）人： | 中化地质矿山总局地质研究院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/28;G01N1/44 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 盛大文 |
| 地址： | 100101 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种碱熔‑原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，该方法采用碱对样品进行碱熔处理，然后加入浓磷酸进行水浴处理。本发明提供的碱熔‑原子荧光光谱法测定地球化学样品中锗的方法，处理分取溶液时水浴操作简单，易于控制，同时节约了成本，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 原子 荧光 光谱 测定 地球化学 样品 方法 | ||
【主权项】：
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