[发明专利]一种微波探测设备的整机校零系统有效
| 申请号： | 202010767221.7 | 申请日： | 2020-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN111856388B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 郭晓华;王宇;顾敏;魏一平 | 申请（专利权）人： | 无锡国芯微电子系统有限公司 |
| 主分类号： | G01S3/02 | 分类号： | G01S3/02 |
| 代理公司： | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人： | 过顾佳;聂启新 |
| 地址： | 214072 江苏省无锡市建筑西路*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微波探测设备的整机校零系统，涉及微波技术领域，该整机校零系统由上位机进行本振点和信道的划分，通过信号源控制置于微波暗室中的发射天线循环发射各个本振点对应的各个信道的中心频率的信号，并获取微波探测设备根据来波信号得到的校零数据，由此得到相位补偿表供微波探测设备在测向时对来波相位差进行相位补偿；该系统对每个信道的中心频率进行校零操作实现超宽带校零，根据干涉原理对微波探测设备的附带的相位差进行补偿，从而可以消除由微波探测设备自身原因产生的相位差、提高测向精度，而且整机校零而不需要对其内部各个模块分别校零，因此减少分模块工作量、提高校零效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微波 探测 设备 整机 系统 | ||
【主权项】：
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