[发明专利]微焦点X-ray检测仪的成像校正方法有效

专利信息
申请号: 202010733715.3 申请日: 2020-07-27
公开(公告)号: CN111855709B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 马清桃;李先亚;陆洋;王瑞崧;王伯淳;田健;袁云华;杨帆 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G06T5/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 徐祥生
地址: 432000*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及微焦点X‑ray检测仪的成像校正方法,包括以下步骤:校正前射线管辐射泄漏检查;断电通道正常性检查;一切安全防护有效和状态正常后进行必要的清洁;释放射线管真空;调整射线靶位置和角度;恢复通道状态后重新建立射线管真空;射线管预热;射线管光学性能参数最优化;X射线管、样品托盘和图像增强器三者之间的几何物理关系失真校准。采用本发明,可以在不增加新的靶材和新设备的前提下,成功解决微焦点X‑ray成像失真和分辨率差的问题,在一定周期内,安全可靠、便捷有效地完成微焦点X‑ray成像失真校正和图像分辨率改善调整,不仅获得较高分辨率和准确性的图像质量,而且延长了微焦点X‑ray成像检测系统的设备使用寿命,有效节约了成本。
搜索关键词: 焦点 ray 检测 成像 校正 方法
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