[发明专利]一种双光源图像的缺陷检测方法、装置、介质及电子设备在审
| 申请号： | 202010732901.5 | 申请日： | 2020-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN111899238A | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 方盛 | 申请（专利权）人： | 苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215124 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种双光源图像的缺陷检测方法、装置、介质及电子设备。该方法包括：获取待测物品的频闪双光源图像；其中，所述频闪双光源图像的像素点是由第一光源和第二光源逐行交错排列的；将所述频闪双光源图像按照光源进行拆分，得到第一光源图像和第二光源图像；确定所述第一光源图像和第二光源图像中像素点灰度均值，和预设灰度阈值，对图像进行二值化处理；根据二值化处理结果，确定所述第一光源图像和第二光源图像的异常点；根据所述异常点在所述第一光源图像和第二光源图像中的像素属性，确定所述异常点的缺陷类型。通过执行本方案，可以通过频闪双光源下拍摄的图像，达到对图像中的缺陷进行精准识别的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光源 图像 缺陷 检测 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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