[发明专利]发射装置性能检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 202010624852.3 申请日: 2020-07-02
公开(公告)号: CN111880163B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 李坤仪;王吉 申请(专利权)人: 深圳市速腾聚创科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01M11/02
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 虞凌霄
地址: 518051 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种发射装置性能检测方法及系统。发射装置性能检测方法包括:以预设策略驱动待测发射装置发射出射光信号;接收出射光信号,获取出射光信号的性能参数;根据出射光信号的性能参数对待测发射装置进行筛选。发射装置的性能对激光雷达的测距能力有直接影响,尤其是发射装置的峰值功率。以预设策略驱动发射装置发射,通过出射光信号进行性能参数的测量,确保所有待测发射装置均处于相同的驱动环境中,获取到的性能参数仅仅与发射装置的自身性能有关。再根据获得的性能参数对发射装置进行筛选,将性能相近的发射装置筛选出来;筛选后的发射装置应用于激光雷达中,能够有效减少不同通道间的差异性,有利于提高激光雷达探测的准确性。
搜索关键词: 发射 装置 性能 检测 方法 系统
【主权项】:
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