[发明专利]缺陷检测模型训练和缺陷检测方法、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010624258.4 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111784673B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 张发恩;孙天齐;袁智超;陆强 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/088;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 李飞 |
| 地址： | 201900 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种缺陷检测模型训练和缺陷检测方法、设备及存储介质，其中，缺陷检测模型训练方法包括获取训练图片集并对训练图片集进行数据标注，得到标注信息；对标注信息进行解码，得到像素级标注图像及目标框标注图像；根据像素级标注图像和目标框标注图像、训练图片集构建训练集和测试集；构建缺陷检测模型及目标损失函数，缺陷检测模型至少包括主干分割子模型、辅助分割子模型、卷积变体子模型；根据训练集、测试集对主干分割子模型、辅助分割子模型、卷积变体子模型进行训练并根据目标损失函数得到并保存缺陷检测模型的最优参数。本申请能够减少缺陷识别中的数据标注工作量及减少训练所需要的数据量。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 模型 训练 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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