[发明专利]磁粉探伤检查用试验体及其制造方法在审
| 申请号： | 202010577423.5 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN112147214A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 一本哲男;伊东俊 | 申请（专利权）人： | 码科泰克株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈伟;周丽娜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种磁粉探伤检查用试验体及其制造方法，其课题为，作为磁粉探伤检查用试验体，制作带有自然或人工形成的损伤且清洗作业容易，并能够避免磁粉进入损伤的内部以进行再现性高的损伤检测性能评价的磁粉探伤检查用试验体。本发明的磁粉探伤检查用试验体为对磁粉探伤检查系统的损伤检测性能进行评价的试验体，其特征在于，使用负70kPa以下真空度的真空将作为树脂的非磁性物质含浸直到自然或人工形成的损伤的大致底部，并将试验体的表面的未含浸在损伤的内部的非磁性物质去除。 | ||
| 搜索关键词： | 探伤 检查 试验 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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